M1 MAEF Statistique : exhaustivité, modèles exponentielles, estimateurs et tests paramétriques
dimanche 14 mars 2010
par Jean-Marc Bardet
par Jean-Marc Bardet
Cours, TD et examens de statistiques mathématiques (2005-2008)
Programme :
1/ rappels de théorie de la mesure appliquée aux probabilités
2/ statistiques exhaustives, minimales, complètes, modèles réguliers et information de Fisher ;
3/ application à l’estimation paramétrique (Lemme de Lehman-Sheffe, Borne de Cramer-Rao, estimateur efficace), cas des modèles exponentiels, estimateur du maximum de vraisemblance et sa convergence ;
4/ application aux tests paramétriques (tests de Wald, de Neyman-Pearson, du rapport de vraisemblance).
5/ introduction aux statistiques non-paramétriques.
Cours (avec bibliographie) : télécharger
TD : télécharger
Contrôles continus (1h30) : CC1 11/2005, CC2 12/2005, CC1 11/2006, CC2 12/2006, CC1 12/2007, CC2 01/2008
